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第一章 长度基准发展的概况和量块概述1

第一节 长度基准发展的概况1

目录1

第二节 量块的概述4

第二章 量块的名词、术语和定义10

1．量块的中心长度10

2．量块任意点的长度10

3．量块的平面平行性偏差10

4．量块的名义尺寸10

6．量块的测量误差和测量的极限误差11

5．量块的实测尺寸11

7．量块的示值误差12

8．量块的修正量12

9．量块的尺寸偏差13

10．量块的研合性13

11．量块测量面的平面度14

第三章 量块的技术要求和检定方法要点15

1．量块的受检项目和主要检定工具15

4．量块的外观质量16

5．量块的截面尺寸16

2．量块检定或使用时的标准温度16

3．量块表面的清理16

6．量块各面之间的垂直度和倒棱宽度17

7．量块的表面光洁度18

8．量块测量面的平面度20

9．量块测量面的研合性23

10．量块测量面的硬度26

11．量块的热膨胀系数27

12．量块的尺寸稳定性27

13．量块的中心长度28

14．量块的平面平行性34

1．绝对测量法原理36

第四章 量块中心长度和平面平行性的测量36

第一节 绝对测量法36

2．用柯氏干涉仪测量量块长度的方法要点45

3．用柯氏干涉仪测量量块平面平行性方法要点51

4．用双参考镜1米光波干涉仪测量量块的原理53

5．计数法56

第二节 比较测量法57

1．比较测量法的原理57

2．量块长度的比较测量要点72

3．量块平面平行性测量要点79

4．结果计算79

5．长量块的测量80

1．直接测量的原理83

第三节 直接测量法83

2．量块中心长度直接测量要点86

3．量块平面平行性测量要点91

第五章 量块检定结果的处理93

1．量块定等93

2．量块定级93

3．有效位数97

4．检定周期97

5．检定证书99

6．历史记录99

1．立式接触干涉仪100

第六章 量块检定常用设备简介100

2．0.2微米投影光学计102

3．超级光学计104

4．技术光波干涉法105

5．立式光学计106

6．臥式光学计107

7．测长机108

8．臥式接触干涉仪110

9．柯氏光波干涉仪111

10．海尔格－瓦兹光波干涉仪112

11．弗尼姆大型干涉仪115

12．JLG-1型激光量块干涉仪117

1．量块绝对测量法的误差分析121

第七章 量块中心长度测量误差分析121

2．量块比较测量法的误差分析127

3．量块直接测量法的误差分析135

第八章 量块检定中一些常见问题的分析和解决办法139

1．同一量块两次测量结果之间的差数139

2．薄量块的弯曲对测量结果的影响以及消除方法143

3．按等检定的量块中心长度偏差的最大限度147

4．材料对量块长度测量结果的影响149

5．量块热膨胀系数简易鉴别法168

6．三点支承工作台表面与仪器测量轴线垂直度的调整173

7．怎样确定检定周期的长短177

8．表4-4温度控制项目在实际应用中的一些具体问题的分析184

第九章 量块的使用和保养188

1．使用量块的中心长度188

2．注意量块表面的清理188

3．按级使用与按等使用189

4．单块使用与组合使用189

5．量块长度的单对使用191

6．量块长度在使用中的单对法、多对并列法和多对串列法194

7．量块使用中温度的影响问题203

8．量块的保养205

附录219

参考资料219